Doppelseiten-Planschleifen

Logo supfinaSeit der Eröffnung des Geschäftsfeldes Doppelseiten-Planschleifen unseres Kunden Supfina Grieshaber GmbH & Co. KG ist MEITEC-Messtechnik in der Maschinenserie Planet V bei namhaften Endkunden im In- und Ausland vertreten.

 


Inprozess- und Postprozess-Messung mit MEITEC Messsteuerungen, SMK1 und EMK2
Doppelseiten-Planschleifen


Inprozess-Messung mit SMK1Inprozess-Messung mit SMK1

Der MEITEC Schleifscheibenmesskopf SMK1 wird direkt an der unteren Schleifscheibe innerhalb der Schleifkammer eingesetzt und sorgt sowohl für die korrekte Position der Schleifscheibe, als auch für die Überwachung des Schleifscheibenverschleisses.

Die Nutzung des MEITEC SMK1 hilft durch die ständige Überwachung während des Schleifprozesses, den Werkstückvorschub im Schleifspalt optimal zu steuern und ist ein wichtiger Baustein zur Vermeidung unnötiger Abrichtvorgänge. Hierdurch können Nebenzeiten und Werkzeugkosten deutlich reduziert werden.

 

 


Postprozess-Messung mit SMK2Postprozess-Messung mit EMK2

Sobald die beidseitig plangeschliffenen Werkstücke die Schleifkammer verlassen kommen MEITEC Einpunktmessköpfe EMK2 in der Postprozess-Messstelle zum Einsatz. Hier wird auch bei unterbrochenen Werkstückoberflächen direkt im Werkstückfluss eine Dickenkontrolle durchgeführt und der Trendverlauf ermittelt.

Durch die geeignete Beeinflussung des Schleifspalts werden hochpräzise Werkstücke unterschiedlichster Art für u.a. Uhrengetriebe und Kugellager geschliffen.

 

 

 

 


DoppelseitenplanschleifenBedienung und Visualisierung

Der Bediener hat den Schleifprozess immer im Blick. Dies wird bei der Planet V–Maschinenserie im Hause Supfina Grieshaber dadurch realisiert, dass Postprozess-Trendwertverlauf, Inprozess-Messwerte und ein Kurz-Histogramm der Einzelmessungen in einem Messprozess-Bild visualisiert werden.

Über die reine Messsteuerungsfunktionalität hinaus wird die Performance der MEITEC Messsteuerungen in einigen Planet V-Maschinen zur Überwachung der Maschinen-Tiltung sowie zur Körperschallvisualisierung und -auswertung genutzt.

 

 


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Postprozess-Messung mit SMK2